Robustness Validation

Risikobewertung (ISO 26262) neuer Technologien und Consumer Bauteile in KFZ-Elektronik EUROFORUM TagungDiese Veranstaltung hat bereits am 4. und 5. November 2014 in Düsseldorf stattgefunden!

Diese Veranstaltung hat bereits am 4. und 5. November 2014 in Düsseldorf stattgefunden!

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Robustness Validation zur Vermeidung von Produkthaftungsfällen bei sicherheitsrelevanter Elektronik

  • Vielfältige Austauschmöglichkeiten insbesondere durch die Abendveranstaltung
  • Thementische mit den Referenten in den Pausen
  • Visitenkartenaustausch zu Beginn der Konferenz
  • Mindtrigger - Wir versorgen Sie vor und nach der Konferenz mit wichtigen aktuellen Informationen, Denkanstößen, Impressionen und Nachlesen

Beide Tage sind getrennt buchbar


  • Vorsitz: Dipl. Ing.Helmut Keller, ZVEI Robustness Validation Forum/SAE Automotive Electronics Reliability Committee
  • Dipl.-Physiker Jürgen Gruber, RoodMicrotec GmbH
  • Harald Grübel, Consulting4Drive GmbH
  • Werner Kanert, Infineon Technologies AG
  • Stefan Kriso, Robert Bosch GmbH
  • Dr. Zhongning Liang, NXP Semiconductors
  • Klemens A. Molinari, Consulting4Drive GmbH
  • Alexander Nebeling, Delphi Deutschland GmbH
  • Dr. Stefan Poledna, TTTech
  • Andreas Preussger, Infineon Technologies AG
  • Andreas Reuter, Reusch Rechtsanwälte
  • Peter de Place Rimmen, Danfoss Power Electronics A/S
  • Rene Rongen, NXP Semiconductors
  • Dr.-Ing. Rolf Schlagenhaft, Freescale Halbleiter Deutschland GmbH
  • Jörg Michael Schneider, NXP Semiconductors
  • Walter Schock, Tec Support Quality Engineering UG
  • Josef Stockinger, STMicroelectronics Application GmbH
  • Dr. Michael Stoll, OSRAM Opto Semiconductors GmbH
  • Dr. Georg Tempel, Infineon Technologies Dresden GmbH
  • Uwe Thiemann, RoodMicrotec GmbH

SPAREN SIE 200 € bei Anmeldung bis zum 15. September 2014


Informieren Sie sich und bringen Sie Ihr Wissen auf den neusten Stand:

  • Produkthaftungsrisiken neuer Halbleitertechnologien
  • Consumer-Komponenten als Risikofaktor in sicherheitskritischer Elektronik
  • Notwendigkeit neuer Entwicklungsabläufe zur Vermeidung von Risiken
  • Zuverlässige Elektronik als Voraussetzung für Funktionale Sicherheit nach ISO 26262
  • Grenzen der ISO 26262
  • Robustness Validation als elementarer Bestandteil der Entwicklung
  • Grenzen der AEC Q100/101 versus Robustness Validation
  • Sicherstellung der geforderten Zuverlässigkeit mit Robustness Validation
  • Rechtliche Situation für verantwortliche Entwickler und Einkäufer

Gute Gründe für diese Konferenz

Sie erhalten:

  • einen technischen und juristischen Blickwinkel auf das Thema Robustness Validation
  • einen fachlichen Überblick über die hochaktuellen Diskussionen
  • Handlungshilfen für Ihre Praxis
  • neue Kontakte durch Visitenkartentausch und eine gemeinsame Abendveranstaltung
  • die Möglichkeit, Ihre individuellen Fragen an den Thementischen in den Pausen mit den vorrangegangenen Referenten zu besprechen.
  • vor und nach der Konferenz wichtige aktuelle Informationen, Denkanstöße, Impressionen und Nachlesen.

Zielgruppe

Verantwortliche im Management und in der Elektronik-Entwicklung der Bereiche

  • Hardware und Systemarchitektur
  • aus dem Umfeld Automobil- und Industrieelektronik
  • Zuverlässigkeitsingenieure
  • Qualitätsverantwortliche entlang der Wertschöpfungskette
  • außerdem Rechtsfragen von Elektronikanwendungen