Robustness Validation

Risikobewertung (ISO 26262) neuer Technologien und Consumer Bauteile in KFZ-Elektronik EUROFORUM TagungDiese Veranstaltung hat bereits am 4. und 5. November 2014 in Düsseldorf stattgefunden!

Referenten

Vorsitz:Dipl. Ing.Helmut Keller, ZVEI Robustness Validation Forum/SAE Automotive Electronics Reliability Committee
Dipl.-Physiker Jürgen Gruber, RoodMicrotec GmbH
Harald Grübel, Consulting4Drive GmbH
Werner Kanert, Infineon Technologies AG
Stefan Kriso, Robert Bosch GmbH

Dr. Zhongning Liang, NXP Semiconductors
Klemens A. Molinari, Consulting4Drive GmbH
Alexander Nebeling, Delphi Deutschland GmbH
Dr. Stefan Poledna, TTTech
Andreas Preussger, Infineon Technologies AG

Andreas Reuter, Reusch Rechtsanwälte
Peter de Place Rimmen, Danfoss Power Electronics A/S
Rene Rongen, NXP Semiconductors
Dr.-Ing. Rolf Schlagenhaft, Freescale Halbleiter Deutschland GmbH
Jörg Michael Schneider, NXP Semiconductors

Walter Schock, Tec Support Quality Engineering UG
Josef Stockinger, STMicroelectronics Application GmbH
Dr. Michael Stoll, OSRAM Opto Semiconductors GmbH
Dr. Georg Tempel, Infineon Technologies Dresden GmbH
Uwe Thiemann, RoodMicrotec GmbH