Events in Zeiten von Corona

Corona macht’s nötig und möglich: Wir bieten Ihnen hochwertige digitale Veranstaltungen mit exklusiven Inhalten und neuen Formaten der Interaktion und Information.

Gleichzeitig möchten wir Ihnen ermöglichen, sich wieder vor Ort mit anderen Teilnehmer:innen auszutauschen, sobald die Rahmenbedingungen es zulassen. Daher prüfen wir dies kontinuierlich und ergänzen unsere Events kurzfristig um entsprechende Elemente. Die Gesundheit aller Beteiligten hat dabei höchste Priorität.

Robustness Validation

Risikobewertung (ISO 26262) neuer Technologien und Consumer Bauteile in KFZ-Elektronik EUROFORUM TagungDiese Veranstaltung hat bereits am 4. und 5. November 2014 in Düsseldorf stattgefunden!

Robustness Validation zur Vermeidung von Produkthaftungsfällen bei sicherheitsrelevanter Elektronik

  • Vielfältige Austauschmöglichkeiten insbesondere durch die Abendveranstaltung
  • Thementische mit den Referenten in den Pausen
  • Visitenkartenaustausch zu Beginn der Konferenz
  • Mindtrigger - Wir versorgen Sie vor und nach der Konferenz mit wichtigen aktuellen Informationen, Denkanstößen, Impressionen und Nachlesen

Beide Tage sind getrennt buchbar


  • Vorsitz: Dipl. Ing.Helmut Keller, ZVEI Robustness Validation Forum/SAE Automotive Electronics Reliability Committee
  • Dipl.-Physiker Jürgen Gruber, RoodMicrotec GmbH
  • Harald Grübel, Consulting4Drive GmbH
  • Werner Kanert, Infineon Technologies AG
  • Stefan Kriso, Robert Bosch GmbH
  • Dr. Zhongning Liang, NXP Semiconductors
  • Klemens A. Molinari, Consulting4Drive GmbH
  • Alexander Nebeling, Delphi Deutschland GmbH
  • Dr. Stefan Poledna, TTTech
  • Andreas Preussger, Infineon Technologies AG
  • Andreas Reuter, Reusch Rechtsanwälte
  • Peter de Place Rimmen, Danfoss Power Electronics A/S
  • Rene Rongen, NXP Semiconductors
  • Dr.-Ing. Rolf Schlagenhaft, Freescale Halbleiter Deutschland GmbH
  • Jörg Michael Schneider, NXP Semiconductors
  • Walter Schock, Tec Support Quality Engineering UG
  • Josef Stockinger, STMicroelectronics Application GmbH
  • Dr. Michael Stoll, OSRAM Opto Semiconductors GmbH
  • Dr. Georg Tempel, Infineon Technologies Dresden GmbH
  • Uwe Thiemann, RoodMicrotec GmbH

SPAREN SIE 200 € bei Anmeldung bis zum 15. September 2014


Informieren Sie sich und bringen Sie Ihr Wissen auf den neusten Stand:

  • Produkthaftungsrisiken neuer Halbleitertechnologien
  • Consumer-Komponenten als Risikofaktor in sicherheitskritischer Elektronik
  • Notwendigkeit neuer Entwicklungsabläufe zur Vermeidung von Risiken
  • Zuverlässige Elektronik als Voraussetzung für Funktionale Sicherheit nach ISO 26262
  • Grenzen der ISO 26262
  • Robustness Validation als elementarer Bestandteil der Entwicklung
  • Grenzen der AEC Q100/101 versus Robustness Validation
  • Sicherstellung der geforderten Zuverlässigkeit mit Robustness Validation
  • Rechtliche Situation für verantwortliche Entwickler und Einkäufer

Gute Gründe für diese Konferenz

Sie erhalten:

  • einen technischen und juristischen Blickwinkel auf das Thema Robustness Validation
  • einen fachlichen Überblick über die hochaktuellen Diskussionen
  • Handlungshilfen für Ihre Praxis
  • neue Kontakte durch Visitenkartentausch und eine gemeinsame Abendveranstaltung
  • die Möglichkeit, Ihre individuellen Fragen an den Thementischen in den Pausen mit den vorrangegangenen Referenten zu besprechen.
  • vor und nach der Konferenz wichtige aktuelle Informationen, Denkanstöße, Impressionen und Nachlesen.

Zielgruppe

Verantwortliche im Management und in der Elektronik-Entwicklung der Bereiche

  • Hardware und Systemarchitektur
  • aus dem Umfeld Automobil- und Industrieelektronik
  • Zuverlässigkeitsingenieure
  • Qualitätsverantwortliche entlang der Wertschöpfungskette
  • außerdem Rechtsfragen von Elektronikanwendungen